طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس (XRF)

طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس (XRF – X-ray Fluorescence Spectroscopy) یک تکنیک تحلیلی است که برای شناسایی و اندازه‌گیری ترکیب عنصری مواد استفاده می‌شود. در این روش، نمونه به وسیله پرتوهای ایکس (X-rays) تحریک می‌شود. این پرتوها انرژی کافی برای ایجاد تحریک در اتم‌های موجود در نمونه فراهم می‌کنند و منجر به این می‌شود که الکترون‌های داخلی اتم‌ها از مدار خود خارج شوند. در نتیجه، الکترون‌های دیگر از مدارهای بالاتر به جای آن‌ها می‌آیند و این جابجایی انرژی باعث تابش پرتوهای فلورسانس می‌شود که دارای انرژی مشخصی هستند.

طیف فلورسانس پرتو ایکس که به این ترتیب تولید می‌شود، اطلاعاتی در مورد ترکیب عنصری و ساختار اتمی نمونه ارائه می‌دهد. هر عنصر در جدول تناوبی یک الگوی خاص از تابش فلورسانس دارد، که به آن امکان شناسایی داده می‌شود.

ویژ‌گی های طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس

• تحلیل سریع و غیرمخرب: XRF معمولاً نیاز به آماده‌سازی حداقلی نمونه دارد و به‌صورت غیرمخرب انجام می‌شود.
• محدوده گسترده‌ای از عناصر: این روش قادر به شناسایی بیشتر عناصر از بَرون (لیتیوم) تا سنگین‌ترین عناصر است (مانند اورانیوم).
• دقت بالا در اندازه‌گیری ترکیبات عنصری: XRF می‌تواند برای آنالیز مواد مختلف از جمله فلزات، سرامیک‌ها، سنگ‌ها، خاک‌ها، مواد زیست‌محیطی، و بسیاری دیگر از نمونه‌ها مورد استفاده قرار گیرد.

این تکنیک کاربردهای گسترده‌ای در صنایع مختلف، مانند معدن، کشاورزی، محیط زیست، مواد ساختمانی، و حتی صنایع غذایی دارد.