طیف سنجی فلورسانس پرتو ایکس (XRF)
طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس (XRF – X-ray Fluorescence Spectroscopy) یک تکنیک تحلیلی است که برای شناسایی و اندازه‌گیری ترکیب عنصری مواد استفاده می‌شود. در این روش، نمونه به وسیله پرتوهای ایکس (X-rays) تحریک می‌شود. این پرتوها انرژی کافی برای ایجاد تحریک در اتم‌های موجود در نمونه فراهم می‌کنند و منجر به این می‌شود که الکترون‌های داخلی اتم‌ها از مدار خود خارج شوند. در نتیجه، الکترون‌های دیگر از مدارهای بالاتر به جای آن‌ها می‌آیند و این جابجایی انرژی باعث تابش پرتوهای فلورسانس می‌شود که دارای انرژی مشخصی هستند.

طیف فلورسانس پرتو ایکس که به این ترتیب تولید می‌شود، اطلاعاتی در مورد ترکیب عنصری و ساختار اتمی نمونه ارائه می‌دهد. هر عنصر در جدول تناوبی یک الگوی خاص از تابش فلورسانس دارد، که به آن امکان شناسایی داده می‌شود.
ویژ‌گی های طیف‌سنجی فلورسانس پرتو ایکس

تحلیل سریع و غیرمخرب: XRF معمولاً نیاز به آماده‌سازی حداقلی نمونه دارد و به‌صورت غیرمخرب انجام می‌شود.
محدوده گسترده‌ای از عناصر: این روش قادر به شناسایی بیشتر عناصر از بَرون (لیتیوم) تا سنگین‌ترین عناصر است (مانند اورانیوم).
دقت بالا در اندازه‌گیری ترکیبات عنصری: XRF می‌تواند برای آنالیز مواد مختلف از جمله فلزات، سرامیک‌ها، سنگ‌ها، خاک‌ها، مواد زیست‌محیطی، و بسیاری دیگر از نمونه‌ها مورد استفاده قرار گیرد.

این تکنیک کاربردهای گسترده‌ای در صنایع مختلف، مانند معدن، کشاورزی، محیط زیست، مواد ساختمانی، و حتی صنایع غذایی دارد.